Анализ дифракционных картин при синтезе наногетероструктур Ge/Si

Add to "Quick Collection"

Description	Size	Format
Анализ дифракционных картин при синтезе наногетероструктур Ge/Si	287 KB	Adobe Acrobat PDF	Read	Download

Title: Анализ дифракционных картин при синтезе наногетероструктур Ge/Si
Creator: Дирко, Владимир Владиславович
|
Лозовой, Кирилл Александрович
|
Коханенко, Андрей Павлович
|
Кукенов, Олжас Игоревич
Date: 2020

Relationships: Show Relationship Browser for this Object
collection(s): Радиофизический факультет | Научное управление
Identifier: смотреть в электронном каталоге НБ ТГУ
Type: статьи в сборниках
Source: Школа молодых ученых "Актуальные проблемы полупроводниковых наносистем", 14-16 декабря, Новосибирск, Интернет-конференция Zoom: 886 6967 7489 : тезисы докладов. Новосибирск, 2020. С. 23-24
Language: rus