Add to Quick Collection
All 13 Results
Showing items 1 - 13 of 13.
Add All Items to Quick Collection
Source: Вакуумная техника, материалы и технология : материалы X международной научно-технической конференции (Москва, КВЦ "Сокольники", 2015, 14-16 апреля). М., 2015. С. 243-248
Type: статьи в сборниках
Date: 2015
Source: Нано- и микросистемная техника. 2015. № 3. С. 31-41
Type: статьи в журналах
Date: 2015
Description:
Представлен анализ научно-технической литературы по оптическим и фотоэлектрическим свойствам наногетероструктур Ge/Si. Описаны особенности полупроводниковых структур с наноразмерными включениями, их о
... More
Source: Х Международная научно-техническая конференция "Вакуумная техника, материалы и технология" (Москва, КВЦ "Сокольники", 2015, 14-16 апреля). М., 2015. С. 238-242
Type: статьи в сборниках
Date: 2015
Source: Нано- и микросистемная техника. 2015. № 2. С. 9-20
Type: статьи в журналах
Date: 2015
Source: Наноинженерия. 2014. № 4. С. 8-14
Type: статьи в журналах
Date: 2014
Source: Наноинженерия. 2014. № 6. С. 3-20
Type: статьи в журналах
Date: 2014
Source: Нано- и микросистемная техника. 2014. № 9. С. 20-31
Type: статьи в журналах
Date: 2014
Source: Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения : материалы Международной научно-технической конференции "INTERMATIC-2013", 2-6 декабря 2013 г., Москва. М., 2013. Ч. 1. С. 204-211
Type: статьи в сборниках
Date: 2013
Source: Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения : материалы Международной научно-технической конференции "INTERMATIC-2013", 2-6 декабря 2013 г., Москва. М., 2013. Ч. 1. С. 212-221
Type: статьи в сборниках
Date: 2013
Source: Нано- и микросистемная техника. 2012. № 2. С. 28-35
Type: статьи в журналах
Date: 2012
Source: Прикладная физика. 2012. № 1. С. 82-89
Type: статьи в журналах
Date: 2012
Source: Нано- и микросистемная техника. 2012. № 3. С. 25-34
Type: статьи в журналах
Date: 2012
Source: Нано- и микросистемная техника. 2010. № 6. С. 10-17
Type: статьи в журналах
Date: 2010
Description:
Пpиведен обзоp имеющихся данных по пpоцессам pадиационного дефектообpазования в КPТ, выpащенном объемными и эпитаксиальными методами. Pассмотpено влияние на электpофизические паpаметpы матеpиала облуч
... More