Authors: Войцеховский, Александр Васильевич | Коротаев, Александр Григорьевич | Григорьев, Денис Валерьевич | Кульчицкий, Николай Александрович | Мельников, Александр Александрович (доктор физ.-мат. наук) | Коханенко, Андрей Павлович

Source: Нано- и микросистемная техника. 2010. № 6. С. 10-17

Type: статьи в журналах

Date: 2010

Description: Пpиведен обзоp имеющихся данных по пpоцессам pадиационного дефектообpазования в КPТ, выpащенном объемными и эпитаксиальными методами. Pассмотpено влияние на электpофизические паpаметpы матеpиала облуч ... More

Authors: Войцеховский, Александр Васильевич | Леонов, Михаил Юрьевич | Шульга, Сергей Анатольевич

Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2010. Т. 53, № 4. С. 16-20

Type: статьи в журналах

Date: 2010

Description: Приведены результаты расчета профилей распределения радиационных дефектов и термомеханических характеристик материала при воздействии мощными лазерными пучками на полупроводниковые образцы КРТ, в рамк ... More