Электронная библиотека (репозиторий) Томского государственного университета
эпитаксиальные пленки | Świątek, Zbigniew

Add to Quick Collection   All 6 Results

Showing items 1 - 6 of 6.
  • «
  • 1
  • »
Sort:
 Add All Items to Quick Collection
Source: Applied nanoscience. 2022. Vol. 12, № 3. P. 395-401
Type: статьи в журналах
Date: 2022
Description: Bright–feld and high-resolution transmission electron microscopy were used for nano-scale structural studies of defects induced by implantation of arsenic ions with 190 keV energy and 1014 cm–2 fuence ... More
Source: Infrared physics and technology. 2021. Vol. 114. P. 103665 (1-7)
Type: статьи в журналах
Date: 2021
Description: Carrier species in arsenic-implanted p– and n–type Hg0.7Cd0.3Te films grown by molecular-beam epitaxy were investigated with the use of the Hall-effect studies and mobility spectrum analysis. The impl ... More
Source: International research and practice conference "Nanotechnology and nanomaterials" (NANO-2021), 25-27 August 2021, Lviv, Ukraine : abstract book. Kiev, 2021. P. 378-
Type: статьи в сборниках
Date: 2021
Description: We report on the results of comparative study of fluence dependence of defect layers in molecular-beam epitaxy-grown epitaxial film of p-Hg1-х CdхTe (х=0.22) implanted with arsenic ions with 190 keV e ... More
Source: Фотоника 2021 : Российская конференция и школа молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники (с участием иностранных ученых), 4-8 октября 2021 г., Новосибирск : тезисы докладов. Новосибирск, 2021. С. 140
Type: статьи в сборниках
Date: 2021
Description: В работе представлены результаты исследований процессов накопления радиационных донорных дефектов и их отжига в подвергнутых ионной имплантации (ИИ) мышьяком (As) гетероэпитаксиальных пленках CdxHg1-x ... More
Source: International research and practice conference "Nanotechnology and nanomaterials" (NANO-2020), 26-29 August 2020, Lviv, Ukraine : abstract book. Kyiv, 2020. P. 421
Type: статьи в сборниках
Date: 2020
Source: Applied nanoscience. 2020. Vol. 10, № 12. P. 4971-4976
Type: статьи в журналах
Date: 2020
Description: Optical reflectance and bright-field and high-resolution transmission electron microscopy studies of radiation damage induced
  • «
  • 1
  • »
^