Электронная библиотека (репозиторий) Томского государственного университета
молекулярно-лучевая эпитаксия | эпитаксиальные пленки

Add to Quick Collection   All 20 Results

Showing items 1 - 15 of 20.
Sort:
 Add All Items to Quick Collection
Source: Infrared physics and technology. 2021. Vol. 114. P. 103665 (1-7)
Type: статьи в журналах
Date: 2021
Description: Carrier species in arsenic-implanted p– and n–type Hg0.7Cd0.3Te films grown by molecular-beam epitaxy were investigated with the use of the Hall-effect studies and mobility spectrum analysis. The impl ... More
Source: Фотоника 2021 : Российская конференция и школа молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники (с участием иностранных ученых), 4-8 октября 2021 г., Новосибирск : тезисы докладов. Новосибирск, 2021. С. 140
Type: статьи в сборниках
Date: 2021
Description: В работе представлены результаты исследований процессов накопления радиационных донорных дефектов и их отжига в подвергнутых ионной имплантации (ИИ) мышьяком (As) гетероэпитаксиальных пленках CdxHg1-x ... More
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2019. Т. 62, № 6. С. 118-124
Type: статьи в журналах
Date: 2019
Description: Экспериментально исследованы вольт-амперные характеристики nBn- структур на основе HgCdTe, выращенного методом молекулярно-лучевой эпитаксии (МЛЭ) на подложках из GaAs, в диапазоне температур 9-300 К. ... More
Source: 6th International congress on energy fluxes and radiation effects (EFRE 2018), September 16-22, 2018, Tomsk, Russia : abstracts. Tomsk, 2018. P. 354
Type: статьи в сборниках
Date: 2018
Source: Физика твердого тела : сборник материалов XVI Российской научной студенческой конференции, Томск, 17–20 апреля 2018 г.. Томск, 2018. С. 198-200
Type: статьи в сборниках
Date: 2018
Source: Физика твердого тела : сборник материалов XVI Российской научной студенческой конференции, Томск, 17–20 апреля 2018 г.. Томск, 2018. С. 213-214
Type: статьи в сборниках
Date: 2018
Source: XXV Международная научно-техническая конференция и школа по фотоэлектронике и приборам ночного видения, 24-26 мая 2018 г., Москва, Россия : труды конференции. М., 2018. Т. 1 : Пленарные и устные доклады. С. 241-244
Type: статьи в сборниках
Date: 2018
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2017. Т. 60, № 12/2. С. 198-201
Type: статьи в журналах
Date: 2017
Description: Определены значения концентраций основных носителей заряда в приповерхностных варизонных слоях полупроводника из измерений адмиттанса МДП-структур на основе n ( p )-HgCdTe, выращенного методом молекул ... More
Source: Journal of Physics: Conference Series. 2016. Vol. 741. P. 012097 (1-5)
Type: статьи в журналах
Date: 2016
Description: In this work the experimental results of investigations of the dynamics of accumulation and spatial distribution of electrically active radiation defects when irradiating epitaxial films of Hg1-xCdxTe ... More
Source: Atomic and Molecular Pulsed Lasers : 12 International Conference, September 14-18, 2015, Tomsk, Russia : abstracts. Tomsk, 2015. P. 90-91
Type: статьи в сборниках
Date: 2015
Source: Proceedings of SPIE. 2015. Vol. 9810 : XII International Conference on Atomic and Molecular Pulsed Lasers, 13–18 September 2015, Tomsk, Russian Federation. P. 98100S-1-98100S-6
Type: статьи в журналах
Date: 2015
Description: In the present report we studied the distribution of surface potential of the HgCdTe epitaxial films grown by molecular beam epitaxy after the impact of picosecond electron beam and volume discharge i ... More
Source: Proceedings of SPIE. 2015. Vol. 9810 : XII International Conference on Atomic and Molecular Pulsed Lasers, 13–18 September 2015, Tomsk, Russian Federation. P. 98100U-1-98100U-6
Type: статьи в журналах
Date: 2015
Description: The purpose of this paper was investigating the effect of volume nanosecond discharge in air at atmospheric pressure on the electro-physical properties of the HgCdTe (MCT) epitaxial films grown by mol ... More
Source: Atomic and Molecular Pulsed Lasers : 12 International Conference, September 14-18, 2015, Tomsk, Russia : abstracts. Tomsk, 2015. P. 89-90
Type: статьи в сборниках
Date: 2015
Source: Semiconductors. 2015. Vol. 49, № 3. P. 309-312
Type: статьи в журналах
Date: 2015
Description: Atomic-force microscopy is used to investigate the distribution of the contact-potential difference (surface potential) in Cd x Hg1 − x Te epitaxial films grown by molecular-beam epitaxy. Modification ... More
Source: Applied surface science. 2015. Vol. 354, Part B. P. 450-452
Type: статьи в журналах
Date: 2015
Description: Reflection high-energy electron diffraction (RHEED) was used to study the evolution of thin GexSi1−x film surface superstructures s in the course of molecular beam epitaxy. The (2 × N) superstructure ... More

Date

^