Электронная библиотека (репозиторий) Томского государственного университета
Kirienko, I. E.

Add to Quick Collection   All 3 Results

Showing items 1 - 3 of 3.
  • «
  • ←
  • 1
  • →
  • »
Sort:
 Add All Items to Quick Collection
Add   A fault-tolerant sequential circuit design for SAFs and PDFs soft errors
Authors: Matrosova, Anjela Yu. | Kirienko, I. E. | Nikolaeva, E. A. | Ostanin, S. A.
Source: 2016 IEEE 22nd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 4-6 July 2016, Hotel Eden Roc, Sant Feliu de Guixols, Catalunya, Spain. [S. l.], 2016. P. [1-2]
Type: статьи в сборниках
Date: 2016
Add   A fault-tolerant combinational circuit design
Authors: Ostanin, S. A. | Kirienko, I. E. | Lavrov, V. A.
Source: Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS'2015), Batumi, Georgia, September 26-29, 2015. [S. l.], 2015. P. 302-305
Type: статьи в сборниках
Date: 2015
Add   Fully delay and multiple stuck-at fault testable sequential circuit design
Authors: Matrosova, A. Yu. | Nikolaeva, E. A. | Kirienko, I. E. | Ostanin, S. A.
Source: Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика. 2015. № 4. С. 82-90
Type: статьи в журналах
Date: 2015
  • «
  • ←
  • 1
  • →
  • »
^