Электронная библиотека (репозиторий) Томского государственного университета

Add to Quick Collection   All 45 Results

Showing items 1 - 15 of 45.
Sort:
 Add All Items to Quick Collection
Source: Semiconductor science and technology. 2019. Vol. 34, № 3. P. 035009 (1-7)
Type: статьи в журналах
Date: 2019
Description: The results from the electrical profiling of an n-on-p junction formed by 190-keV arsenic ion implantation in an indium/vacancy–doped Hg0.78Cd0.22Te film are presented. Mobility spectrum analysis in c ... More
Source: Materials research express. 2019. Vol. 6, № 7. P. 075912 (1-8)
Type: статьи в журналах
Date: 2019
Description: In this paper experimental results of research of boron ion implantation into Hg1−x Cd x Te epitaxial films of various compositions x are presented. Samples of epitaxial films were grown by the method ... More
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2019. Т. 62, № 6. С. 118-124
Type: статьи в журналах
Date: 2019
Description: Экспериментально исследованы вольт-амперные характеристики nBn- структур на основе HgCdTe, выращенного методом молекулярно-лучевой эпитаксии (МЛЭ) на подложках из GaAs, в диапазоне температур 9-300 К. ... More
Source: 6th International congress on energy fluxes and radiation effects (EFRE 2018), September 16-22, 2018, Tomsk, Russia : abstracts. Tomsk, 2018. P. 354
Type: статьи в сборниках
Date: 2018
Source: 6th International congress on energy fluxes and radiation effects (EFRE 2018), September 16-22, 2018, Tomsk, Russia : abstracts. Tomsk, 2018. P. 349
Type: статьи в сборниках
Date: 2018
Source: Физика твердого тела : сборник материалов XVI Российской научной студенческой конференции, Томск, 17–20 апреля 2018 г.. Томск, 2018. С. 198-200
Type: статьи в сборниках
Date: 2018
Source: Труды Пятнадцатой Всероссийской конференции студенческих научно-исследовательских инкубаторов, Томск, 17-19 мая 2018 г.. Томск, 2018. С. 246-249
Type: статьи в сборниках
Date: 2018
Source: Физика твердого тела : сборник материалов XVI Российской научной студенческой конференции, Томск, 17–20 апреля 2018 г.. Томск, 2018. С. 213-214
Type: статьи в сборниках
Date: 2018
Source: XXV Международная научно-техническая конференция и школа по фотоэлектронике и приборам ночного видения, 24-26 мая 2018 г., Москва, Россия : труды конференции. М., 2018. Т. 1 : Пленарные и устные доклады. С. 241-244
Type: статьи в сборниках
Date: 2018
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2018. Т. 61, № 8/2. С. 132-136
Type: статьи в журналах
Date: 2018
Description: Представлены экспериментальные результаты исследования влияния высокочастотного наносекундного диффузного разряда в воздухе атмосферного давления на электрофизические свойства эпитаксиальных пленок КР ... More
Source: Journal of Physics: Conference Series. 2017. Vol. 830. P. 012083 (1-6)
Type: статьи в журналах
Date: 2017
Description: In this work we studied the characteristics of MBE MCT films after the introduction of different energies As+ with different doses of irradiation. Some of the samples were subjected to post-implantati ... More
Source: Physical Review B. 2017. Vol. 95, № 20. P. 205429-1-205429-9
Type: статьи в журналах
Date: 2017
Description: Using surface x-ray diffraction and scanning tunneling microscopy in combination with first-principles calculations, we have studied the geometric and electronic structure of Cs-deposited Bi2Se3(0001) ... More
Source: Russian physics journal. 2017. Vol. 60, № 2. P. 354-359
Type: статьи в журналах
Date: 2017
Description: Growth of SiSn compounds with a Sn content from 10 to 35% is studied. The morphology and surface structure of the SiSn layers are examined and the kinetic diagram of the morphological state of SiSn fi ... More
Source: Journal of Physics: Conference Series. 2017. Vol. 830. P. 012082 (1-4)
Type: статьи в журналах
Date: 2017
Description: The effect of a high-frequency nanosecond volume discharge forming in an inhomogeneous electrical field at atmospheric pressure on the CdHgTe (CMT) epitaxial films is studied. The measurement of the e ... More

Date

^