Add to Quick Collection
All 238 Results
Showing items 106 - 120 of 238.
Add All Items to Quick Collection
Source: Journal of electronic materials. 2017. Vol. 46, № 7. P. 4435-4438
Type: статьи в журналах
Date: 2017
Description:
The manufacturing process of wide-band-gap matrix photodetector devices and miniaturization of their individual pixels gave rise to increased demands on the material quality and research methods. In t
... More
Source: Russian physics journal. 2017. Vol. 60, № 1. P. 128-139
Type: статьи в журналах
Date: 2017
Description:
Capacitance-voltage (C–V) characteristics of MIS structures based on the graded-gap n-Hg1–xCdxTe (x = 0.22–0.40) grown by molecular-beam epitaxy were experimentally studied in the temperature range of
... More
Source: Opto-electronics review. 2017. Vol. 25, № 2. P. 148-170
Type: статьи в журналах
Date: 2017
Description:
Analysis is performed of the contemporary views on the effect of ion etching (ion-beam milling and reactive ion etching) on physical properties of HgCdTe and on the mechanisms of the processes respons
... More
Authors:
Izhnin, Igor I. |
Korotaev, A. G. |
Fitsych, O. I. |
Bonchyk, A. Yu. |
Savytskyy, H. V. |
Mynbaev, K. D. |
Varavin, V. S. |
Dvoretsky, Sergei A. |
Mikhailov, N. N. |
Voytsekhovskiy, Alexander V. |
Yakushev, M. V. |
Jakiela, R.
Source: Infrared physics and technology. 2017. Vol. 81. P. 52-58
Type: статьи в журналах
Date: 2017
Description:
A defect study was performed on arsenic-implanted Hg1-xCdxTe (x = 0.23–0.30) films with graded-gap surface layers, grown with molecular-beam epitaxy on GaAs and Si substrates and designed for fabricat
... More
Authors:
Izhnin, Igor I. |
Korotaev, A. G. |
Fitsych, Olena I. |
Bonchyk, Oleksandr Yu. |
Savytskyy, Hrygory V. |
Mynbaev, Karim D. |
Varavin, Vasilii S. |
Dvoretsky, Sergei A. |
Yakushev, Maxim V. |
Voytsekhovskiy, Alexander V. |
Jakiela, Rafal |
Trzyna, Malgorzata
Source: EPJ Web of Conferences. 2017. Vol. 133. P. 01001 (1-4)
Type: статьи в журналах
Date: 2017
Description:
Defect structure of arsenic-implanted Hg1-xCdxTe films (x=0.23–0.30) grown with molecular-beam epitaxy on Si substrates was investigated with the use of optical methods and by studying the electrical
... More
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2017. Т. 60, № 11. С. 3-12
Type: статьи в журналах
Date: 2017
Description:
Экспериментально исследован адмиттанс МДП-структур на основе n ( p ) - Hg1-x Cd x Te (при x от 0.22 до 0.40) с диэлектриками SiO2/Si3N4, Al2O3 и CdTe/Al2O3 при температуре 77 К. Выращивание в процессе
... More
Source: Успехи прикладной физики. 2017. Т. 5, № 1. С. 54-62
Type: статьи в журналах
Date: 2017
Description:
Экспериментально исследован адмиттанс МДП-структур на основе МЛЭ p-HgCdTe ( x = 0,22-0,23) в широком диапазоне частот и температур. Дифференциальное сопротивление области пространственного заряда для
... More
Source: VI Международная конференция по фотонике и информационной оптике : сборник научных трудов. М., 2017. С. 380-381
Type: статьи в сборниках
Date: 2017
Source: Нано- и микросистемная техника. 2017. Т. 19, № 1. С. 3-20
Type: статьи в журналах
Date: 2017
Description:
Рассмотрены возможности исследования электрофизических свойств МДП-структур на основе n(p)-Hgi _ xCdxTe (x = 0,21...0,23), выращенного методом молекулярно-лучевой эпитаксии, в широком диапазоне темпер
... More
Authors:
Ижнин, Игорь Иванович |
Савицкий, Григорий Владимирович |
Свентек, Збигнев |
Войцеховский, Александр Васильевич |
Коротаев, Александр Григорьевич |
Мынбаев, Карим Джафарович |
Варавин, Василий Семенович |
Дворецкий, Сергей Алексеевич |
Михайлов, Николай Николаевич (физик) |
Якушев, Максим Витальевич |
Бончик, Александр Юрьевич |
Фицич, Елена Ивановна
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2017. Т. 60, № 10. С. 92-97
Type: статьи в журналах
Date: 2017
Description:
Проведены комплексные исследования дефектной структуры имплантированных ионами мышьяка (с энергией 190 кэВ) пленок Cd x Hg1- x Te ( x = 0.22), выращенных молекулярно-лучевой эпитаксией. Исследования п
... More
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2017. Т. 60, № 12/2. С. 198-201
Type: статьи в журналах
Date: 2017
Description:
Определены значения концентраций основных носителей заряда в приповерхностных варизонных слоях полупроводника из измерений адмиттанса МДП-структур на основе n ( p )-HgCdTe, выращенного методом молекул
... More
Source: VI Международная конференция по фотонике и информационной оптике : сборник научных трудов. М., 2017. С. 378-379
Type: статьи в сборниках
Date: 2017
Source: Седьмая Международная конференция "Кристаллофизика и деформационное поведение перспективных материалов", посвященная памяти профессора С. С. Горелика ; Вторая Международная школа молодых ученых "Актуальные проблемы современного материаловедения", Москва, 2-5 октября 2017 г. : тезисы докладов. М., 2017. С. 58
Type: статьи в сборниках
Date: 2017
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2017. Т. 60, № 12/2. С. 202-205
Type: статьи в журналах
Date: 2017
Description:
Использована специальная методика измерений электрофизических характеристик МДП-структур на основе МЛЭ HgCdTe, позволяющая исключить влияние гистерезисных явлений на результаты измерения первой произв
... More
Source: Труды Четырнадцатой Всероссийской конференции студенческих научно-исследовательских инкубаторов, Томск, 17-18 мая 2017 г.. Томск, 2017. С. 46-50
Type: статьи в сборниках
Date: 2017
