Please be patient while the object screen loads.
Электронная библиотека (репозиторий)
Томского государственного университета
English
Русский
Home
Show
All
Show
Quick Collection
Browse ↓
Communities & Collections
By Title
By Creator
By Subject
By Date
Additional Resources
Search History
Эндаумент фонд ТГУ!
Впиши своё имя в историю университета
-
Сделать пожертвование
-
Advanced Search
константные неисправности
|
Kirienko, I. E.
Add to Quick Collection
Description
Size
Format
Fully delay and multiple stuck-at fault testable sequential circuit design
474 KB
Adobe Acrobat PDF
View Details
Download
Title
Fully delay and multiple stuck-at fault testable sequential circuit design
Creator
Matrosova, A. Yu.
Creator
Nikolaeva, E. A.
Creator
Kirienko, I. E.
Creator
Ostanin, S. A.
Contributor
Томский государственный университет Факультет прикладной математики и кибернетики Кафедра программирования
Subject
конечные автоматы
константные неисправности
монотонные функции
неисправности задержек путей
Date
2015
Relationships
Show Relationship Browser for this Object
collection(s)
Факультет прикладной математики и кибернетики (до 01.09.2017 г.)
Журналы ТГУ
Identifier
vtls:000519102
http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000519102
Type
статьи в журналах
Source
Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика. 2015. № 4. С. 82-90
Language
eng
997 Visitors
863 Hits
143 Downloads
Preview
Факультет прикладной математики и кибернетики (до 01.09.2017 г.)
Журналы ТГУ
Fully delay and multiple stuck-at fault testable sequential circuit design
^ DIV >