Электронная библиотека (репозиторий) Томского государственного университета
Morgiel, Jerzy

Add to Quick Collection   All 3 Results

Showing items 1 - 3 of 3.
  • «
  • 1
  • »
Sort:
 Add All Items to Quick Collection
Source: Applied nanoscience. 2022. Vol. 12, № 3. P. 395-401
Type: статьи в журналах
Date: 2022
Description: Bright–feld and high-resolution transmission electron microscopy were used for nano-scale structural studies of defects induced by implantation of arsenic ions with 190 keV energy and 1014 cm–2 fuence ... More
Source: Russian physics journal. 2020. Vol. 63, № 2. P. 290-295
Type: статьи в журналах
Date: 2020
Description: By profiling the electrical parameters of the arsenic implanted CdHgTe films, grown by molecular beam
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2020. Т. 63, № 2. С. 98-103
Type: статьи в журналах
Date: 2020
Description: Путем профилирования электрических параметров имплантированных мышьяком пленок CdHgTe, выращенных молекулярно-лучевой эпитаксией, и сопоставления полученных данных с результатами исследований, проведе ... More
  • «
  • 1
  • »
^