Электронная библиотека (репозиторий) Томского государственного университета

Add to Quick Collection   All 73 Results

Showing items 1 - 15 of 73.
Sort:
 Add All Items to Quick Collection
Source: Journal of communications technology and electronics. 2019. Vol. 64, № 3. P. 289-293
Type: статьи в журналах
Date: 2019
Description: The capacitance–voltage (CV) curves of metal–insulator–semiconductor (MIS) systems based on an HgCdTe nBn structure grown by molecular-beam epitaxy on GaAs(013) substrates were studied for the first t ... More
Source: Russian physics journal. 2019. Vol. 62, № 1. P. 90-99
Type: статьи в журналах
Date: 2019
Description: In a wide range of frequencies and temperatures, the admittance of MIS structures based on pentacene organic films, formed by thermal evaporation in vacuum on SiO2 and SiO2/Ga2O3 substrates, was exper ... More
Source: Russian physics journal. 2019. Vol. 61, № 11. P. 2126-2134
Type: статьи в журналах
Date: 2019
Description: For the depletion and accumulation modes, equivalent circuits of MIS structure based on an organic P3HT thin film with an Al2O3 insulator are proposed. The frequency dependences of the capacitance and ... More
Source: Journal of communications technology and electronics. 2018. Vol. 63, № 9. P. 1112-1118
Type: статьи в журналах
Date: 2018
Description: Features of the electrical properties of n(p)-Hg1–xCdxTe (x = 0.21–0.23) with Al2O3 or SiO2/Si3N4 dielectrics are considered. The HgCdTe films were grown by means of molecular beam epitaxy on GaAs(013 ... More
Source: Russian physics journal. 2018. Vol. 60, № 11. P. 1853-1863
Type: статьи в журналах
Date: 2018
Description: Admittance of MIS structures based on n(p)- Hg1–xCdxTe (at x from 0.22 to 0.40) with SiO2/Si3N4, Al2O3, and CdTe/Al2O3 insulators is studied experimentally at 77 K. Growth of an intermediate CdTe laye ... More
Source: Vacuum. 2018. Vol. 158. P. 136-140
Type: статьи в журналах
Date: 2018
Description: The electrical properties of MIS structures based on graded band gap Hg0.77Cd0.23Te grown by the molecular beam epitaxy method with the Al2O3 dielectric formed by the plasma enhanced atomic layer depo ... More
Source: Journal of communications technology and electronics. 2018. Vol. 63, № 3. P. 281-284
Type: статьи в журналах
Date: 2018
Description: The impact of the presence of the near-surface graded-gap layers with an increased content of CdTe on the admittance of MIS structures based on MBE-grown n-Hg1–xCdxTe (x = 0.22–0.23) with the Al2O3 in ... More
Source: 6th International congress on energy fluxes and radiation effects (EFRE 2018), September 16-22, 2018, Tomsk, Russia : abstracts. Tomsk, 2018. P. 353
Type: статьи в сборниках
Date: 2018
Source: Труды Пятнадцатой Всероссийской конференции студенческих научно-исследовательских инкубаторов, Томск, 17-19 мая 2018 г.. Томск, 2018. С. 246-249
Type: статьи в сборниках
Date: 2018
Source: Прикладная физика. 2018. № 4. С. 43-48
Type: статьи в журналах
Date: 2018
Description: Вольт-фарадные характеристики (ВФХ) МДП-систем на основе nBn-структуры из HgCdTe, выращенной методом молекулярно-лучевой эпитаксии на подложках из GaAs (013), впервые исследованы при разных частотах и ... More
Source: Прикладная физика. 2018. № 3. С. 15-21
Type: статьи в журналах
Date: 2018
Description: Проведено численное моделирование низкочастотных и высокочастотных вольт-фарадных характеристик (ВФХ) МДП-структур на основе n-Hg0,70Cd0,30Te с приповерхностным варизонным слоем с повышенным содержани ... More
Source: Прикладная физика. 2018. № 3. С. 22-26
Type: статьи в журналах
Date: 2018
Description: В широком диапазоне условий измерения экспериментально исследован адмиттанс МДП-структур на основе МЛЭ p-Hg1-xCdxTe/Si(013) с приповерхностным варизонным слоем с повышенным содержанием CdTe и без тако ... More
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2018. Т. 61, № 11. С. 162-169
Type: статьи в журналах
Date: 2018
Description: Для режимов обеднения и обогащения предложены эквивалентные схемы МДП-структуры на основе органической тонкой пленки (P3HT) с диэлектриком Al2O3. Проведено моделирование частотных зависимостей емкости ... More

Date

^