Add to Quick Collection
All 133 Results
Showing items 76 - 90 of 133.
Add All Items to Quick Collection
Source: Прикладная физика. 2018. № 4. С. 54-60
Type: статьи в журналах
Date: 2018
Description:
Исследованы вольт-фарадные характеристики МДП-структур, полученных на основе эпитаксиальных слоев n-Cd0,24Hg0,76Te, подвергнутых воздействию мягкого рентгеновского излучения. Показано, что в результат
... More
Source: Известия Российской академии наук. Серия физическая. 2014. Т. 78, № 10. С. 1312-1316
Type: статьи в журналах
Date: 2014
Source: Успехи прикладной физики. 2013. Т. 1, № 3. С. 338-343
Type: статьи в журналах
Date: 2013
Source: Прикладная физика. 2017. № 5. С. 59-63
Type: статьи в журналах
Date: 2017
Description:
Показана возможность селективного поверхностного дефектообразования при облучении мягким рентгеновским излучением эпитаксиальных слоев Cd x Hg 1-x Te за счет избирательного воздействия излучения на от
... More
Source: Нано- и микросистемная техника. 2012. № 3. С. 25-34
Type: статьи в журналах
Date: 2012
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2010. Т. 53, № 9. С. 54-58
Type: статьи в журналах
Date: 2010
Description:
Представлена модель изменения пропускания мощных лазерных импульсов с учетом изменения с температурой оптических параметров материала CdxHg1–xTe. Рассчитаны тепловые поля, профили коэффициента поглоще
... More
Source: Прикладная физика. 2018. № 4. С. 43-48
Type: статьи в журналах
Date: 2018
Description:
Вольт-фарадные характеристики (ВФХ) МДП-систем на основе nBn-структуры из HgCdTe, выращенной методом молекулярно-лучевой эпитаксии на подложках из GaAs (013), впервые исследованы при разных частотах и
... More
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2017. Т. 60, № 12. С. 122-127
Type: статьи в журналах
Date: 2017
Description:
Приведены результаты экспериментального исследования фотоэлектрических характеристик двухслойных фоторезисторов на основе р -Cd x Hg1-x Te ( x = 0.24-0.28) с тонким приповерхностным слоем n -типа пров
... More
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2013. Т. 56, № 9/2. С. 85-88
Type: статьи в журналах
Date: 2013
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2015. Т. 58, № 8/2. С. 271-273
Type: статьи в журналах
Date: 2015
Source: Прикладная физика. 2014. № 5. С. 45-49
Type: статьи в журналах
Date: 2014
Source: Вестник Томского государственного университета. 2005. № 285 : Серия "Физика". С. 164-171
Type: статьи в журналах
Date: 2005
Source: Нано- и микросистемная техника. 2015. № 3. С. 31-41
Type: статьи в журналах
Date: 2015
Description:
Представлен анализ научно-технической литературы по оптическим и фотоэлектрическим свойствам наногетероструктур Ge/Si. Описаны особенности полупроводниковых структур с наноразмерными включениями, их о
... More
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2011. Т. 54, № 3. С. 3-9
Type: статьи в журналах
Date: 2011
Description:
Исследовано влияние областей с периодическими резкими неоднородностями по составу толщиной 48–54 нм на электрофизические характеристики МДП-структур на основе варизонного n-Hg1–xCdxTe с x = 0,29–0,31,
... More
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2013. Т. 56, № 9/2. С. 122-124
Type: статьи в журналах
Date: 2013