Проводится моделирование профилей линий в спектрах атома криптона, излучаемых плазмой токовых слоев. Токовые слои формируются под воздействием магнитных полей с особыми линиями X -типа. Расчеты профилей линий проводятся методом диагонализации матрицы энергии атома в электрическом поле. Исследована зависимость поведения профилей линий от параметров переменного электрического поля, возникающего в плазме токовых слоев, и от температуры плазмы. Предложены критерии, позволяющие выявить спектральные линии, являющиеся индикаторами появления аномальных электрических полей в токовых слоях.