Диагностика включений в кристаллах ZnGeP2 методом терагерцовой спектроскопии

Эндаумент фонд ТГУ!
Впиши своё имя в историю университета
- Сделать пожертвование -

Add to "Quick Collection"

Description	Size	Format
Диагностика включений в кристаллах ZnGeP2 методом терагерцовой спектроскопии	1 MB	Adobe Acrobat PDF	Read	Download
DOI Доступ к ресурсу на сайте издателя			10.17223/00213411/62/6/80

Title: Диагностика включений в кристаллах ZnGeP2 методом терагерцовой спектроскопии
Creator: Дорожкин, Кирилл Валерьевич
|
Зиновьев, Михаил Михайлович
|
Подзывалов, Сергей Николаевич
|
Половцев, Игорь Георгиевич
|
Сусляев, Валентин Иванович
|
Юдин, Николай Николаевич
|
Грибенюков, Александр Иванович
Date: 2019
DOI: 10.17223/00213411/62/6/80
Description: Представлены результаты экспериментального исследования дисперсии показателя преломления n (ν) и коэффициента поглощения a(ν) в диапазоне частот 0.3-1 TГц кристалла ZnGeP2, а также проведен их сравнительный анализ. Эти спектры могут быть использованы для оперативной диагностики качества материалов, требующих интегральной характеризации. Определен наиболее информативный спектральный диапазон, в котором наблюдаются значительные различия величины коэффициентов поглощения, - 400-800 мкм.

Relationships: Show Relationship Browser for this Object
collection(s): Радиофизический факультет | Журналы ТГУ
Identifier: смотреть в электронном каталоге НБ ТГУ
Rights: Resource access is available in the premises of Research Library
Type: статьи в журналах
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2019. Т. 62, № 6. С. 80-87
Language: rus